Abstract

La presente invenzione riguarda un metodo e un dispositivo per effettuare misure di posizione come scansioni di superfici per lo studio della loro topografia e proprietà fisiche con risoluzione microscopica, misure di massa (masse microscopiche) mediante sonde in modalità dinamica oscillanti a una data frequenza

Ente di Ricerca

Scuola Normale Superiore

Numero di pubblicazione

IT1391149B1

TRL

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