L'invenzione riguarda un metodo e un apparato di caratterizzazione non perturbativa ad ampio campo visivo e alta risoluzione temporale, adatta a circuiti fotonici integrati indipendentemente dalle loro dimensioni e materiale di fabbricazione.
Nell'ambito della interferometria ottica, la tecnologia del brevetto propone un metodo semplice che rimuove le distorsioni di fase senza aumentare il rumore e può essere implementato in qualsiasi interferometro con controllo di fase attivo
La presente invenzione riguarda un metodo e un dispositivo per effettuare misure di posizione come scansioni di superfici per lo studio della loro topografia e proprietà fisiche con risoluzione microscopica, misure di massa (masse microscopiche) mediante sonde in modalità dinamica [...]
